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图书(1)

书目库

中文图书(1)

主题

微电子技术(1)

出版社

电子工业出版社(1)

出版时间

2016(1)

主动红外微电子封装缺陷检测技术

— 陆向宁著

索书号：TN405/6

标准编码： 978-7-121-30709-6

出版信息：北京电子工业出版社 2016

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