| ISBN/价格: | 978-7-118-05904-5:CNY32.00 |
|---|---|
| 作品语种: | chi |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 现代材料分析技术/.黎兵编著 |
| 出版发行项: | 北京:,国防工业出版社:,2008 |
| 载体形态项: | 212页:;+图:;+26cm |
| 相关题名附注: | 英文并列题名取自于封面 |
| 提要文摘: | 本书第一、二章,介绍原子光谱技术,是专门测试材料组分的技术方法;第三、四章,介绍分子光谱技术,第五章是散射光谱,连同第六章的质谱法,是测试材料组分及结构的技术方法;第七、八、九章,介绍电子显微术及原子力显微镜,主要测试材料的超微观形貌;第十章,介绍的深能级瞬态谱法是材料科学与工程中较常用的现代测试技术,涉及到材料、特别是半导体材料的物化性分析。 |
| 并列题名: | Analyse technology of modern materials eng |
| 题名主题: | 工程材料 分析方法 |
| 中图分类: | TB3 |
| 中图分类: | TB3 |
| 个人名称等同: | 黎兵 编著 |
| 记录来源: | CN 江苏新华 20100605 |
| 电子图书: | 阅读地址 |