| ISBN/价格: | 978-7-121-08293-1:CNY69.00 |
|---|---|
| 作品语种: | chi eng |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 混合信号集成电路测试与测量/.(美) Mark Burns, Gordon W. Roberts等著/.冯建华, 肖钢等译 |
| 出版发行项: | 北京:,电子工业出版社:,2009 |
| 载体形态项: | 531页:;+图:;+26cm |
| 丛编项: | 国外电子与通信教材系列 |
| 提要文摘: | 本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法,是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。本书共为16章,内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精确性、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DtT)、数据分析和测试经济学。 |
| 题名主题: | 混合集成电路 测试技术 教材 |
| 中图分类: | TN450.7 |
| 中图分类: | TN450.7 |
| 个人名称等同: | 罗伯茨 著 |
| 个人名称等同: | 伯恩斯 著 |
| 个人名称次要: | 冯建华 译 |
| 个人名称次要: | 肖钢 译 |
| 记录来源: | CN 江苏新华 20100506 |
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