书目详细信息
： 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-52184-6:CNY59.90 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测/.(美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编/.续海涛等译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2016 |
| 载体形态项： | 13,191页:;+24cm |
| 丛编项： | 国际信息工程先进技术译丛 |
| 提要文摘： | 本书分为4个部分：第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成（ATPG）；第2部分关于全速测试，并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD；第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案，可以在ATPG和基于电路拓扑的解决方案之间进行折衷；第4部分介绍了SDD的测试标准，以量化的指标来评估SDD覆盖率。 |
| 并列题名： | Testing for small-Delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits eng |
| 题名主题： | 纳米材料 CMOS电路 缺陷检测 |
| 中图分类： | TN432 |
| 个人名称等同： | 戈埃尔 (美) (Goel, Sandeep K.) 主编 |
| 个人名称等同： | 查克拉巴蒂 (印) (Chakrabarty, Krishnendu) 主编 |
| 个人名称次要： | 续海涛 译 |
| 记录来源： | CN 91MARC 20150920 |
| 电子图书： | 阅读地址 |