书目详细信息
： 现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-35115-0:CNY79.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi jpn |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应/.(日)Eshi H. Ibe著/.毕津顺,马瑶,王天琦译 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2019 |
| 载体形态项： | 14,210页:;+26cm |
| 丛编项： | 国防电子信息技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书主要介绍广泛存在的各种辐射,及其对电子设备和系统的影响,涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射,包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子,从物理角度建模,以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。 |
| 并列题名： | Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems eng |
| 题名主题： | 集成电路 全球环境 辐射效应 |
| 题名主题： | 电子系统 全球环境 辐射效应 |
| 中图分类： | TN4 |
| 中图分类： | TN103 |
| 个人名称等同： | 伊部英治 (日) 著 |
| 个人名称次要： | 毕津顺 译 |
| 个人名称次要： | 马瑶 译 |
| 个人名称次要： | 王天琦 译 |
| 记录来源： | CN 91MARC 20190508 |
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