书目详细信息
： 数字电子技术实验
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5606-4436-3:CNY16.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 610000 |
| 题名责任者项： | 数字电子技术实验/.李文联，李杨，吴学军主编 |
| 出版发行项： | 西安:,西安电子科技大学出版社:,2017 |
| 载体形态项： | 98页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 高等学校电子信息类“十三五”规划教材 |
| 提要文摘： | 本书分为数字电子技术实验基础知识、数字电子技术基础性实验、数字电子技术设计性实验三部分，介绍了实验的基本过程、实验操作规范和常见故障检查方法、集成逻辑门电路逻辑功能的测试、集成逻辑门电路的参数测试、中规模集成电路计数器的应用、利用TTL集成逻辑门构成脉冲电路、简易数学控制电路设计等内容。 |
| 题名主题： | 数字电路 电子技术 实验 高等学校 教材 |
| 中图分类： | TN79-33 |
| 个人名称等同： | 李文联 (电子学) 主编 |
| 个人名称等同： | 李杨 (电子学) 主编 |
| 个人名称等同： | 吴学军 主编 |
| 记录来源： | CN 91MARC 20171018 |
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