书目详细信息
： 电子元器件可靠性设计
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-019638-5:CNY49.90 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 电子元器件可靠性设计/.王蕴辉， 于宗光， 孙再吉主编 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2007 |
| 载体形态项： | 514页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 电子可靠性工程技术实践丛书 |
| 提要文摘： | 本书共分9章，内容涉及电子元器件可靠性设计的一般要求；单片集成电路可靠性设计；混合集成电路可靠性设计与控制；半导体分立器件可靠性设计；连接器可靠性设计；继电器可靠性设计；电容器可靠性设计；微特电机可靠性设计；声表面波器件可靠性设计等。 |
| 题名主题： | 电子元件 可靠性设计 |
| 中图分类： | TN602 |
| 中图分类： | TN602 |
| 个人名称等同： | 王蕴辉 主编 |
| 个人名称等同： | 于宗光 主编 |
| 个人名称等同： | 孙再吉 主编 |
| 记录来源： | CN 江苏新华 20100604 |
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