书目详细信息
： 集成电路测试技术基础
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-122-02948-5:CNY26.00 (含光盘) |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 集成电路测试技术基础/.姜岩峰， 张晓波， 杨兵编著 |
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2008 |
| 载体形态项： | 170页:;+图:;+24cm:;+光盘1片 |
| 提要文摘： | 本书包括数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术三大部分内容，主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。另外，本书配有一张DVD演示光盘，主要介绍的是混合信号集成电路的测试原理和方法，包括混合信号测试系统的硬件组成、硬件连接及操作、LabVIEW软件的使用等，与图书文字内容相辅相成，以助于深化理解测试的概念。 |
| 题名主题： | 集成电路 测试 技术 |
| 中图分类： | TN407 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 张晓波 编著 |
| 个人名称等同： | 杨兵 编著 |
| 个人名称等同： | 姜岩峰 编著 |
| 记录来源： | CN 江苏新华 20100406 |
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