ISBN/价格: | 978-7-111-23325-1:CNY27.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 公差配合与技术测量/.主编朱超 |
出版发行项: | 北京:,机械工业出版社:,2008 |
载体形态项: | 199页:;+图:;+26cm |
丛编项: | 高职高专“十一五”机电一体化专业规划教材 |
提要文摘: | 本书主要内容包括:技术测量基础、光滑圆柱的极限与配合、形状和位置公差及其误差的检测、表面粗糙度及其检测、圆锥结合的互换性及其检测等。 |
题名主题: | 公差 配合 高等教育 教材 |
题名主题: | 技术测量 高等教育 教材 |
中图分类: | TG801 |
个人名称等同: | 朱超 主编 |
记录来源: | CN 江苏新华 20150511 |
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