书目详细信息
： 公差与技术测量
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-118-06232-8:CNY26.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 公差与技术测量/.杨好学， 蔡霞主编 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,2009 |
| 载体形态项： | 224页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书采用最新的国家标准，介绍新国家标准的规定及应用。其内容包括：绪论、极限与配合、测量技术基础，几何公差，表面粗糙度，普通结合件的互换性，典型零件的公差与测量。 |
| 题名主题： | 公差 配合 高等学校 教材 |
| 题名主题： | 技术测量 高等学校 教材 |
| 中图分类： | TG801 |
| 中图分类： | TG801 |
| 个人名称等同： | 杨好学 主编 |
| 个人名称等同： | 蔡霞 主编 |
| 记录来源： | CN 江苏新华 20100514 |
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